阅读文章中的DCAC SCAN测试技术
来源:365bet网上足球 作者:365bet手机网址多少 时间:2019-09-27 点击:

本文基于DC / ACSCAN概念并进行比较,以使您对DC / ACSCAN测试技术有更完整的了解。
SCAN技术,也称为ATPG技术:std-logic test,主要实现工具有:使用Mentor的TestKompress和synopsysTetraMAX生成ATPG。插入扫描链主要使用DFTcompiler概述。DCSCAN通常称为normalscantest,是一种慢速测试,测试频率是10M-30M,ACSCAN是速度扫描,即实际速度测试。测试频率与芯片的实际工作频率相同。
从1970年到1995年,芯片的工作频率为20-100M,而扫描测试仅是DCSCAN,因此它能够捕获标准逻辑的所有制造缺陷。
但是,自1995年以来,科学家和测试工程师在DCSCAN测试中发现,无缺陷的芯片会在高工作频率下引起问题。
根本原因是,随着制造工艺发展到深亚微米级,芯片的工作频率将增加到200M-1G。原始的SCAN测试方法和模型无法以标准逻辑捕获所有制造缺陷。
每个人的匹配想法都将增加扫描频率,以匹配运行,扫描和芯片的实际操作频率,并使用新的TransiTIonatpg模型生成测试模式。
以下是DCSCAN和ACSCAN之间的异同。




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